美國APT開(kāi)爾文探針 ：適用於四線法測試  ，以(yǐ)減小線阻和接觸電阻對測試的影響  ，保證小電阻的測試準確性 。另外  ，一些高頻測試  ，比如150M左右  ，也(yě)可以(yǐ)採用這個 。

美國GGB探針 ： ST系(xì)列硬(yìng)針可以(yǐ)用於與刮擦或(huò)者刺(cì)穿芯片表面(miàn)鈍化(huà)層(céng) 。 該(gāi)探針可以(yǐ)選擇(zé)表面(miàn)鍍鎳 ， 如果選擇(zé) 鍍鎳則(zé)型(xíng)號後面(miàn)增加 “NP” 。

QRUI-5系(xì)列探針台 ：研發的一款在特(tè)殊環(huán)境下(xià)給樣品(pǐn)加載電學信號的設備 。可以(yǐ)實現(xiàn)器件及材料表徵(zhēng)的IV/CV特(tè)性測試 ，射頻測試 ，光電測試等 。通(tōng)過液(yè)氮或(huò)者壓縮機(jī)制(zhì)冷  ，可以(yǐ)在防(fáng)輻射屏內營造一個穩定(dìng)的測試環(huán)境 。

QRUI-1A系(xì)列探針台 ：是一款在非真空(kōng)條(tiáo)件下(xià)實現(xiàn)高低溫環(huán)境的測試探針台 。該(gāi)產品(pǐn)採用氣冷制(zhì)冷  ，自(zì)動控(kòng)溫  ，設備配置非常豐富 。自(zì)帶屏蔽暗室  ，一方面(miàn)可以(yǐ)屏蔽無線電磁干擾 ，另外一方面(miàn)也(yě)可以(yǐ)保持氮氣正壓環(huán)境下(xià)樣品(pǐn)在低溫時無結(jié)霜 。該(gāi)產品(pǐn)多(duō)數用於相關單位實驗室 。

QRUI-3 系(xì)列探針台 ：一款高配置綜合型(xíng)手動測試探針台 , 該(gāi)系(xì)列探針台設備配置豐富  ，基本可以(yǐ)滿足一般實驗室的全部測試要求 。