美國APT開爾文(wén)探針 ：適用於(yú)四線法測試  ，以減小線阻(zǔ)和(hé)接觸電阻(zǔ)對測試的影響  ，保證(zhèng)小電阻(zǔ)的測試準確性 。另外  ，一些高頻測試  ，比如150M左右  ，也可以採(cǎi)用這個 。

美國GGB探針 ： ST系列(liè)硬針可以用於(yú)與刮擦或者刺穿芯片表面鈍化(huà)層 。 該(gāi)探針可以選(xuǎn)擇表面鍍鎳 ， 如果(guǒ)選(xuǎn)擇 鍍鎳則型(xíng)號後(hòu)面增加(jiā) “NP” 。

QRUI-5系列(liè)探針台 ：研發的一款在特殊環境下(xià)給樣品(pǐn)加(jiā)載電學信(xìn)號的設備 。可以實(shí)現器件(jiàn)及材料(liào)表徵的IV/CV特性測試 ，射頻測試  ，光電測試等 。通(tōng)過液氮或者壓縮機制冷 ，可以在防輻射屏內營造一個穩定的測試環境 。

QRUI-1A系列(liè)探針台 ：是一款在非真空條件(jiàn)下(xià)實(shí)現高低溫環境的測試探針台 。該(gāi)產品(pǐn)採(cǎi)用氣(qì)冷制冷  ，自動控溫  ，設備配(pèi)置非常豐富(fù) 。自帶屏蔽暗室  ，一方面可以屏蔽無線電磁乾(gàn)擾  ，另外一方面也可以保持氮氣(qì)正壓環境下(xià)樣品(pǐn)在低溫時無結霜 。該(gāi)產品(pǐn)多(duō)數用於(yú)相(xiàng)關單位(wèi)實(shí)驗室 。

QRUI-3 系列(liè)探針台 ：一款高配(pèi)置綜(zōng)合(hé)型(xíng)手動測試探針台 , 該(gāi)系列(liè)探針台設備配(pèi)置豐富(fù)  ，基本可以滿足一般實(shí)驗室的全部(bù)測試要求 。