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描(miáo)述 :WEP CVP21電化(huà)學C-V剖面濃度測量儀德(dé)國WEP公司(sī)的CVP21電化(huà)學C-V剖面濃度測試儀可高效 、准(zhǔn)確的測量半導體材料(結構 ,層)中的摻雜濃度分(fèn)布 。選用合(hé)適的電解液與材料接觸 、腐蝕 ,從而得到(dào)材料的摻雜濃度分(fèn)布 。電容(róng)值電壓掃(sǎo)描(miáo)和腐蝕過程由軟件全(chéng)自動控(kòng)制 。電化(huà)學ECV剖面濃度測試儀主要用於半導體材料的研(yán)究及開發 ,其原(yuán)理是使用電化(huà)學電容(róng)-電壓法(fǎ)來(lái)測量半導體材料的摻雜濃度分(fèn)布 。電化(huà)學ECV(
| 品(pǐn)牌 | 其他品(pǐn)牌 | 產地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 化(huà)工 ,能源 ,電子/電池 ,包裝/造紙(zhǐ)/印刷 ,電氣 |
德(dé)國WEP公司(sī)的CVP21電化(huà)學C-V剖面濃度測試儀可高效
、准(zhǔn)確的測量半導體材料(結構
,層)中的摻雜濃度分(fèn)布
。選用合(hé)適的電解液與材料接觸
、腐蝕
,從而得到(dào)材料的摻雜濃度分(fèn)布
。電容(róng)值電壓掃(sǎo)描(miáo)和腐蝕過程由軟件全(chéng)自動控(kòng)制
。
電化(huà)學ECV剖面濃度測試儀主要用於半導體材料的研(yán)究及開發
,其原(yuán)理是使用電化(huà)學電容(róng)-電壓法(fǎ)來(lái)測量半導體材料的摻雜濃度分(fèn)布
。電化(huà)學ECV(CV-Profiler
, C-V Profiler)也是分(fèn)析或(huò)發展半導體光-電化(huà)學濕法(fǎ)蝕刻(PEC Etching)很好的選擇
。CVP21電化(huà)學C-V剖面濃度測量儀適用於評(píng)估和控(kòng)制在半導體生產中的外延過程並(bìng)且(qiě)以被使用在多種(zhǒng)不同的材料上
,例如 :硅
、鍺
、III-V族化(huà)合(hé)物半導體(如GaN)
。
CVP21的系統特點 :
技(jì)術參數
:
CVP21電化(huà)學CV剖面濃度分(fèn)析儀完美結合(hé)了(le)WEP在電化(huà)學方分(fèn)布測試方面超過30年的經驗和世界上的電路(lù)系統
。全(chéng)自動
,特別適用於新材料
,如氮化(huà)鎵
、碳化(huà)硅材料等
。
可有效檢測
:外延材料
、擴散
、離子注入
。
載流子濃度測量範圍
:1011/cm3~1021/cm3
;
深度分(fèn)辨率(lǜ)
:低至1nm
;
模塊(kuài)化(huà)系統結構
:
- 拓撲型結構
;
- 實時監控(kòng)腐蝕過程
;
- 適於微小樣品(pǐn)及大尺寸的晶圓
;
- 全(chéng)自動化(huà)系統
;
主要特點
:
CVP21電化(huà)學ECV是半導體載流子濃度分(fèn)布完美的解決方案
:
1. CVP21應用範圍寬
,可以用於絕大多數的半導體材料
。
- IV族半導體如
:硅(Si)
、鍺(Ge)
、碳化(huà)硅(SiC)等…
- III-V族化(huà)合(hé)物半導體如
:砷化(huà)鎵(GaAs)
、磷化(huà)銦(InP)
、磷化(huà)鎵(GaP)等…
- 三(sān)元III-V族化(huà)合(hé)物半導體如
:鋁(lǚ)鎵砷(AlGaAs) 、鎵銦磷(GaInP)
、鋁(lǚ)銦砷(AlInAs)等…
- 四元III-V族化(huà)合(hé)物半導體如
:鋁(lǚ)鎵銦磷(AlGaInP)等…
- 氮化(huà)物如
:氮化(huà)鎵(GaN)
、鋁(lǚ)鎵氮(AlGaN)
、銦鎵氮(InGaN)
、鋁(lǚ)銦氮(AlInN)等…
- II-VI族化(huà)合(hé)物半導體如
:氧化(huà)鋅(ZnO)
、碲化(huà)鎘(CdTe)
、汞鎘碲(HgCdTe)等…
- 其他不常見半導體材料(可以聯繫我們進行樣品(pǐn)測量)
。
2. CVP21可測試不同形態(tài)的樣品(pǐn)
:多層結構的薄膜材料
、基(jī)底沒有限(xiàn)制(基(jī)底導電或(huò)絕緣均可)
、標準(zhǔn)樣品(pǐn)尺寸從4*2mm ~ 8英(yīng)寸晶圓(更小尺寸樣品(pǐn)請預先咨詢我們)
。
3. CVP21擁有很好的分(fèn)辨率(lǜ)範圍
:
* 載流子濃度分(fèn)辨率(lǜ)範圍從< 1012 cm-3 ~ > 1021 cm-3
* 深度分(fèn)辨率(lǜ)範圍從1nm ~ 100um (依樣品(pǐn)類型
、樣品(pǐn)質量決定)
4. CVP21是一套完整(zhěng)的電化(huà)學ECV測量系統
:
* 系統可靠性高(儀器的電子
、機械
、光學
、液體傳動幾個(gè)主要部分(fèn)均經特殊設計(jì))
* 免校准(zhǔn)的系統(*自校准(zhǔn)的電子系統
,電纜電容(róng)均無須用戶再次校准(zhǔn))
* 易(yì)於使用(全(chéng)用戶管理軟件優化(huà)
,在實驗室環(huán)境或(huò)生產環(huán)境均易(yì)於使用)
* 照相機鏡頭(tóu)控(kòng)制(過程在線(sī)由彩色(sè)照相機鏡頭(tóu)控(kòng)制
;每次測量後
,鏡頭(tóu)數據均可取出(chū)
。)
* 實驗菜單(測量菜單預定義
,優先權(quán)用戶可以很容(róng)易(yì)修改或(huò)改進測量菜單)
* Dry-In/Dry-Out: Auto-Load/Unload/Reload (電化(huà)學樣品(pǐn)池自動裝載/卸載/再裝載
,優先權(quán)用戶易(yì)於修改
,進行樣品(pǐn)dry-in/dry-out處理
。)
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