Ecopia HMS-3500高溫霍爾效應測試(shì)儀主要(yào)用於(yú)測量半導體材料的載流子濃度 、遷移率 、電阻率 、霍爾系數 、導電類型等重要(yào)參數 ，而這些參數是為瞭解半導體材料電學特(tè)性必須預先掌控的 ，因此霍爾效應測試(shì)儀是理解和研究半導體器件(jiàn)和半導體材料電學特(tè)性*的工具 。

　　產品特(tè)點 ：

　　1 、 可靠(kào)的精度及重現性

　　恆電流源(1nA~20mA)採(cǎi)用六(liù)級電流範圍設(shè)置 ，將可以(yǐ)接收的誤差降到 ；範德堡法(fǎ)則(zé)轉換使(shǐ)用非(fēi)接觸裝置有效降低儀器噪聲(shēng) ；軟硬件(jiàn)有針對性的設(shè)計 ，確保每個實(shí)驗數據均為多(duō)次測試(shì)的平均值 ，使(shǐ)儀器擁有非(fēi)常好(hǎo)的數據重現性 。

　　2
、 產品小型化及操作簡單化

　　Ecopia HMS-3500高溫霍爾效應測試(shì)儀小尺(chǐ)寸的磁場(chǎng)強度輸入系統使(shǐ)用永磁體和液氮(dàn)低溫測量系統(77K) ，確保儀器操作非(fēi)常簡單
；兩種不同(tóng)尺(chǐ)寸的傳統樣品板(20*20mm 、6*6mm)及帶(dài)彈簧夾(jiá)片的樣品板(SPCB) ，使(shǐ)得不同(tóng)尺(chǐ)寸不同(tóng)材料的薄膜(mó)樣品更容易測量 ，區別於(yú)傳統樣品板的彈簧夾(jiá)片樣品板使(shǐ)得霍爾電極(jí)製作更方便且對樣品損傷更小 。

　　3 、 I-V曲線及I-R曲線測量

　　採(cǎi)用圖表的方式 ，測量探針四點(A 、B 、C 、D)間電流-電壓(yā)及電流-電阻關係 ，並以(yǐ)此評判樣品的歐姆接觸好(hǎo)壞 、瞭解樣品的基本的電學特(tè)性 。

　　4 、 多(duō)樣的實(shí)驗結果

　　Ecopia HMS-3500高溫霍爾效應測試(shì)儀實(shí)驗結果由軟件(jiàn)自動計算得到 ，可同(tóng)時得到體載流子濃度(Bulk Carrier Concentration) 、表面載流子濃度(Sheet Carrier Concentration) 、遷移率(Mobility) 、電阻率(Resistivity)
、霍爾系數(Hall Coefficient) 、磁致電阻(Magnetoresistance) 、電阻的縱橫比率(Vertical/Horizontal ratio of resistance)等等 。