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SIPDR電阻率測試夾具(jù)用於測量超材料(liào)和電阻膜的(de)表面阻抗 ,以及用於半導體(tǐ)晶片的(de)電導率的(de)非接觸式測量 ;可以測量的(de)薄膜材料(liào)範圍包(bāo)括表面阻抗Rs 20kΩ/sq的(de)電阻層(céng) 、金屬薄膜和導電聚合物(wù)薄膜 。
更新時間 :2024-11-29
廠商性質 :經(jīng)銷(xiāo)商
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