表面電阻率電導率測試(shì)的(de)標(biāo)准(zhǔn)發佈在名為(wéi)D257的(de)標(biāo)准(zhǔn)文件中(zhōng);緊跟標(biāo)准(zhǔn)文件名稱後的(de)數字表示最初採用的(de)年(nián)份(fèn)
，對於修訂版(bǎn)本而(ér)言
，表示最近一次修訂的(de)年(nián)份(fèn)
。 括(kuò)號里的(de)數字表示最近一次通過審批(pī)的(de)年(nián)份(fèn)
，上(shàng)標(biāo)ε 表示自從最後一次修訂或通過審批(pī)以(yǐ)來的(de)編輯性的(de)修改
。
1
、適(shì)用範圍
1.1這些測試(shì)方(fāng)法(fǎ)涵蓋了直流(liú)絕緣電阻率
、體積電阻率和表面電阻率的(de)測量(liàng)步驟
。通過試(shì)樣
、電極的(de)幾何(hé)尺(chǐ)寸和這些測量(liàng)方(fāng)法(fǎ)可以(yǐ)計算得到電絕緣材料(liào)的(de)體積和表面電阻
，同時也(yě)可以(yǐ)計算得到相應的(de)電導率和電導
。
1.2這些測試(shì)方(fāng)法(fǎ)不適(shì)用測量(liàng)適(shì)度導電的(de)材料(liào)的(de)電阻和電導
。採用測試(shì)方(fāng)法(fǎ)D4496來表徵(zhēng)這類材料(liào)
。
1.3這個標(biāo)准(zhǔn)描(miáo)述了測量(liàng)電阻或電導的(de)幾種可替換(huàn)的(de)方(fāng)法(fǎ)
。適(shì)合某種材料(liào)的(de)測試(shì)方(fāng)法(fǎ)是採用適(shì)用於該材料(liào)的(de)標(biāo)准(zhǔn)ASTM測試(shì)方(fāng)法(fǎ)
，而(ér)且這種標(biāo)准(zhǔn)測試(shì)方(fāng)法(fǎ)定義了電壓應力的(de)極限值和有限的(de)通電時間
，以(yǐ)及(jí)試(shì)樣的(de)外形和電極的(de)幾何(hé)形狀
。這些單個的(de)測試(shì)方(fāng)法(fǎ)能更好的(de)表示出結果(guǒ)的(de)精度和偏差
。
表面電阻率電導率測試(shì)意(yì)義和作用
2.1絕緣材料(liào)被用來隔絕電氣(qì)系(xì)統中(zhōng)的(de)部件和將部件與地隔絕
，同時也(yě)為(wéi)部件提供力學支撐
。為(wéi)了達到這個目(mù)的(de)
，希望部件的(de)絕緣電阻在與可承(chéng)受的(de)力學
、化學和耐熱性一致(zhì)的(de)前(qián)提下能夠盡可能的(de)高
。由於絕緣電阻或電導包含了體積和表面電阻或電導
，當試(shì)樣與電極與其實際使用過程(chéng)中(zhōng)的(de)形狀相同時
，測量(liàng)值最為(wéi)有用
。表面電阻或電導隨濕度變化很快
，然而(ér)體積電阻或電導卻變化很慢
，儘管體積電阻或電導最終的(de)變化可能更大
。
2.2電阻率或電導率能用來間接預(yù)測一些 材料(liào)的(de)低頻(pín)介質擊穿和介質損耗角(jiǎo)
，電阻率和電導率經常被用來間接地表徵(zhēng)含水量(liàng)
、固化度
、機械連(lián)接和各種類型的(de)材料(liào)退化 。這些間接測量(liàng)的(de)有效性取決於理論或實驗研究相關聯的(de)程(chéng)度
。表面電阻的(de)下降可能導致(zhì)電介質擊穿電壓的(de)升(shēng)高
，因為(wéi)電場(chǎng)強度降低了
，或者(zhě)導致(zhì)電介質擊穿電壓的(de)降低 ，因為(wéi)應力作用的(de)面積減小(xiǎo)了
。
2.3所(suǒ)有的(de)絕緣電阻或電導取決於充電時間和施加(jiā)的(de)電壓值(平常的(de)環境變量(liàng)除外)
。這點必須清(qīng)楚的(de)知道
，才能保證電阻和電導的(de)測量(liàng)值有意(yì)義
。在電氣(qì)絕緣材料(liào)行業內
，表觀電阻通常指任意(yì)充電時間下得到的(de)電阻值
。見X1.4
2.4體積電阻率或電導率可以(yǐ)從電阻和尺(chǐ)寸數據中(zhōng)計算得到
，這有助(zhù)於設計具體應用中(zhōng)的(de)絕緣體
。電阻率或電導率隨溫度和濕度的(de)變化可能很大
，而(ér)且為(wéi)具體工(gōng)作條件設計時
，必須注意(yì)這點
。體積電阻率和電導率的(de)測定經常用來檢查絕緣材料(liào)與其I藝相關的(de)均勻性
，或者(zhě)用來檢測影響材料(liào)質量(liàng)而(ér)又不容易被其他方(fāng)法(fǎ)檢測到的(de)導電雜質
。
