關(guān)於電(diàn)學(xué)量測使用的探針 ，一般分為以(yǐ)下幾大類 ，為您(nín)做詳細的說明
 

　　一 、概述 ：
 

　　測試針 ，是用於測試PCBA的一種探針 ，主要(yào)做為電(diàn)學(xué)信號的輸(shū)入 。
 

　　表面(miàn)鍍金 ，內部(bù)有平(píng)均(jūn)壽命3萬~10萬次的高性能彈簧 。
 

　　探針的材質 ：W ，ReW , A+
 

　　1.目前主要(yào)採(cǎi)用的材質為W ，ReW , 彈性一般 ，容(róng)易偏移 ，粘金屑 ，需要(yào)多次的清洗 ，磨損損針長 ，壽命一般 。
 

　　2. A+材質的免清針 ，這種材質彈性較好 ，測試中(zhōng)不容(róng)易偏移 ，並且不粘金屑 ，免清洗 ，因此壽命較長 。
 

　　二 、探針分類
 

　　探針根據電(diàn)子(zǐ)測試用途可分為 ：
 

　　A 、光電(diàn)路(lù)板(bǎn)測試探針 ：未(wèi)安(ān)裝元器(qì)件前的電(diàn)路(lù)板(bǎn)測試和(hé)只開路(lù) 、短(duǎn)路(lù)檢(jiǎn)測探針 ；
 

　　B 、在線(sī)測試探針 ：PCB線(sī)路(lù)板(bǎn)安(ān)裝元器(qì)件後(hòu)的檢(jiǎn)測探針 ；
 

　　C 、微電(diàn)子(zǐ)測試探針
：即晶圓測試或芯片IC檢(jiǎn)測探針 ；
 

　　三 、探針主要(yào)類型(xíng)
：懸臂探針和(hé)垂直探針 。
 

　　懸臂探針 ：劈刀型(xíng)(Blade Type)和(hé)環氧樹脂(zhī)型(xíng)(Epoxy Type)
 

　　垂直探針 ：垂直型(xíng)(Vertical Type)
 

　　1.ICT探針 (ICT series Probes)
 

　　一般直徑在2.54mm-1.27mm之(zhī)間 ，有業內的標準稱(chēng)呼100mil ,75mil ,50mil ,還有更特別(bié)的直徑只有0.19mm ,主要(yào)用於在線(sī)電(diàn)路(lù)測試和(hé)功能測試.也稱(chēng)ICT測試和(hé)FCT測試.也是目前應(yīng)用較多的一種探針.
 

　　2.界面(miàn)探針(Interface Probes)
 

　　非標準的探針
 

　　3.微型(xíng)探針(MicroSeries Probes)
 

　　兩個測試點中(zhōng)心間距一般為0.25mm至0.76mm.
 

　　4.開關(guān)探針(Switch Probes)
 

　　開關(guān)探針單*支(zhī)探針有兩路(lù)電(diàn)流.
 

　　5.高頻探針(Coaxial Probes)
 

　　用於測試高頻信號 ，有帶屏蔽圈的可測試10GHz以(yǐ)內的和(hé)500MHz不帶屏蔽圈的.
 

　　6.旋轉探針(Rotator Probes)
 

　　彈力一般不高 ，因為其穿透(tòu)性本來就很強 ，一般用於OSP處理(lǐ)過的PCBA測試.
 

　　7.高電(diàn)流探針(High Current Probes)
 

　　探針直徑在2.54mm-4.75mm之(zhī)間.大的測試電(diàn)流可達39amps.
 

　　8.半導體(tǐ)探針 (Semiconductor Probes)
 

　　直徑一般在0.50mm-1.27mm之(zhī)間.帶寬大於10GHz ,50Ω characteristic
 

　　9.電(diàn)池接(jiē)觸探針 (Battery and Connector Contacts)
 

　　一般用於優化接(jiē)觸效果 ，穩定性好和(hé)壽命長